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产品简介
产品介绍
Clemex PS Filter清洁度分析系统是用在质量控制实验室里测量薄膜过滤器上收集的微粒，以检查污染，或检查洁净室的空气质量。
-在制造业，医药等行业的颗粒污染测量是极为重要的。 Clemex PSFilter是专门设计用来分析在不同区域的污染，测量在薄膜过滤器，硅片等上面的颗粒。
Clemex PS Filter清洁度分析系统
凭借其方便的下拉菜单，允许您选择预编程的标准， 如ISO 4407，ISO 4406，ISO 16232，IEST STD CC 1246D，或USP788。 Clemex PSFilter也可提供自定义的应用标准。
-USP 788标准用来测量粒径和计数。这标准是由标准化组织（ISO）出版的，涉及到液压油固体颗粒污染。
-ISO 4406标准定义用于污染编码的方法，并必须将样品根据ISO 4407进行分析。
-ISO 16232，该标准涉及到道路车辆流体元件的清洁度。 标准定义了所使用的术语， 规定了不同提取污染物的方法，有几种方法确定污染物的规模和性质。
-IEST STD，CC1246D是环境科学技术研究所（IEST）出版的一个标准，涉及到产品的清洁度等级和污染控制。标准定义清洁度测定中使用的术语和设置洁净度水平的上限。
上海玖横仪器有限公司是一家专业从事仪器仪表研发、生产、销售及服务的企业。超声波探伤仪：（EPOCH 600超声探伤仪、EPOCH 6LT超声探伤仪、EPOCH 650超声探伤仪、EPOCH 1000超声探伤仪、USM 36超声探伤仪、USN 60超声探伤仪、USM go+超声探伤仪、Ominscan SX相控阵探伤仪、OmniScan MX2相控阵TOFD探伤仪，新款OmniScan MX3全聚焦相控阵超声波探伤仪）；超声波测厚仪：（27MG超声波测厚仪、45MG超声波测厚仪、38DL PLUS超声波测厚仪、DM5E超声波测厚仪、CL5超声波测厚仪、MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪，ETG-100电磁高温测厚仪）；超声波探头；定制相控阵探头；涡流探伤仪：（NORTEC 600涡流探伤仪）；硬度计；DR平板探测器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探测器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。内窥镜：（IPLEX NX奥林巴斯内窥镜、IPLEX GX/GT奥林巴斯内窥镜、IPLEX G Lite奥林巴斯内窥镜、IPLEX TX奥林巴斯内窥镜、IPLEX YS奥林巴斯内窥镜、XLGo+工业视频内窥镜GE、XL Detect+工业视频内窥镜GE新款、UVin专业紫外视频内窥镜、）；脉冲发生器：（DRP300替代奥林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析仪：(Vanta奥林巴斯手持式合金分析仪、DELTA Professional手持式合金分析仪奥林巴斯、DELTA Element手持式合金分析仪奥林巴斯)等仪器仪表
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