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上海玖横仪器有限公司
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产品简介
产品介绍
磁通Magnaflux裂纹比对器用于测量液体渗透探伤（LPI）过程中所确认的缺陷显示的实际尺寸。比对器件号514048，以英寸为单位测量裂纹，比对器件号514049，以公制为单位测量裂纹，比对器件号514050，已经过Pratt & Whitney认证。
磁通Magnaflux裂纹比对器
件号:
514048 - 通用型裂纹比对器，测量范围0.005" --- 0.125"
514049 - 通用型裂纹比对器，测量范围0.2mm --- 3.0mm
514050 - 经Pratt & Whitney认证的裂纹比对器，测量范围0.010" --- 0.180"，符合Pratt & Whitney要求（P&W 参考号 - TAM 135273）
上海玖横仪器有限公司是一家专业从事仪器仪表研发、生产、销售及服务的企业。超声波探伤仪：（EPOCH 600超声探伤仪、EPOCH 6LT超声探伤仪、EPOCH 650超声探伤仪、EPOCH 1000超声探伤仪、USM 36超声探伤仪、USN 60超声探伤仪、USM go+超声探伤仪、Ominscan SX相控阵探伤仪、OmniScan MX2相控阵TOFD探伤仪，新款OmniScan MX3全聚焦相控阵超声波探伤仪）；超声波测厚仪：（27MG超声波测厚仪、45MG超声波测厚仪、38DL PLUS超声波测厚仪、DM5E超声波测厚仪、CL5超声波测厚仪、MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪，ETG-100电磁高温测厚仪）；超声波探头；定制相控阵探头；涡流探伤仪：（NORTEC 600涡流探伤仪）；硬度计；DR平板探测器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探测器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。内窥镜：（IPLEX NX奥林巴斯内窥镜、IPLEX GX/GT奥林巴斯内窥镜、IPLEX G Lite奥林巴斯内窥镜、IPLEX TX奥林巴斯内窥镜、IPLEX YS奥林巴斯内窥镜、XLGo+工业视频内窥镜GE、XL Detect+工业视频内窥镜GE新款、UVin专业紫外视频内窥镜、）；脉冲发生器：（DRP300替代奥林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析仪：(Vanta奥林巴斯手持式合金分析仪、DELTA Professional手持式合金分析仪奥林巴斯、DELTA Element手持式合金分析仪奥林巴斯)等仪器仪表
