NSC公司创立于1987年,本着“失效分析的强力支持者"的宗旨,NEC公司已经为半导体元件开发出一系列的失效分析设备,主要有塑料模具开封测试系统,激光开封系统,研磨系统 lc 背板蚀刻系统,用于液晶和离子反应的可升级的曲线轨迹自动追踪系统等。 | |
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NSC公司创立于1987年,本着“失效分析的强力支持者"的宗旨,NEC公司已经为半导体元件开发出一系列的失效分析设备,主要有塑料模具开封测试系统,激光开封系统,研磨系统lc背板蚀刻系统,用于液晶和离子反应的可升级的曲线轨迹自动追踪系统等
NSC公司创立于1987年,本着“失效分析的强力支持者"的宗旨,NEC公司已经为半导体元件开发出一系列的失效分析设备,主要有塑料模具开封测试系统,激光开封系统,研磨系统 lc 背板蚀刻系统,用于液晶和离子反应的可升级的曲线轨迹自动追踪系统等。 | |
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