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操作简单且性价比高。
自下而上进行测量,从而快速、简便地定位样品
广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号
以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析
带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型,可对极薄镀层及微量成分进行测量
厚度仅为几纳米的贵金属镀层
时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析
抗磨损镀层,如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量
测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层,UBM)
测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度
专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析
依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则,检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质(例如重金属)
功能性镀层的成分,如测定化学镍中的磷含量
专业生产镀层测厚仪,ROHS检测仪,气相色谱质谱联用仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪,X射线镀层测厚仪,,ROHS测量仪,液相色谱仪,ROHS2.0分析仪,XRF,X荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪, ROHS检测仪器,手持式合金分析仪等,涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A,GCMS6800,ICP2060T,,ICPMS2000等。
镀层测厚仪展厅
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