内镀层测厚仪,天瑞仪器2 返回列表页

EDX4500特性：

• 检出限低、重复精度高，以及测量适用性广，因此特别适用于研究和开发使用

• 配备真空测量室和高性能硅漂移探测器，能够实现测量，尤其是对轻元素的测试

• 通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试

• 准直器和滤波器可切换，因此可适用于各种材料和测试条件

EDX4500应用：

EDX4500涂层厚度测量

• 原子序数从Na（11）开始的轻元素镀层，可测量厚度低至纳米级

• 铝镀层和硅镀层

EDX4500材料分析

• 测定宝石的真伪与原产地

• 常规材料分析和取证

• 高分辨率痕量分析

专业生产镀层测厚仪，ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

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