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X-荧光光谱仪工作原理
X-荧光光谱仪有两种类型:种是波长色散型(WDX),种是能量色散型(EDX),在WDX中,荧光光谱通过色散元件(如晶体)被分离成不连续的波段,然后用气体正比计数器或闪烁计数器检测,其主要组成是X光管、初级准直器、晶体、次级准直器和探测器,及辅助装置如初级滤光片等。
SDD探测器X荧光仪共有2个探测器,即流气正比计数器和闪烁计数器,装在探测器架上,可程控切换.扫描式X射线荧光仪安装的是具有很大测定灵活性的测角仪,只要配备了必要的分析晶体就能按序分析周期表上多达83个元素。
X射线荧光光谱仪的基本原理
被测试样进入光谱仪后,受到来自X光管发出的X射线光束激发,产生X荧光,X射线荧光是指用X射线管或其它合适的辐射源照射物质时,使组成物质的原子产生具有特征性的种次级X射线,X光管发射的光谱是有靶材元素(Rh铑)的特征谱和连续谱(或称白色辐射)所组成,来自样品的辐射是由X光管光谱和样品中各元素的特征谱所组成的混合光,这种混合光被引入测角仪所组成的色散系统分光,分光后所得的谱线和被测样品中存在的元素有关。
EDX1800B
rohs2.0检测仪性能参数
专门应对rohs2.0、卤素等环保指令的检测
集成FP法、Alpha系数法、经验系数法,多种数据处理方式,能更的应对非常规产品的检测
可生成各种人性化的检测报告
软硬结合的防辐射设计,使操作人员更安
操作简便、键式操作设计
智能软件自动设定参数和滤光片
快速无损分析样品
多种语言的操作系统
超温保护、超载保护
无需耗材
rohs2.0检测仪EDX1800B技术规格
探测器:美Amptek Si-PIN探测器,高速脉冲分析系统
高压电源:美Spellman 50w(50kv/MA)
X射线管:50w侧窗铍窗型X射线管
能量分辨率:160ev
元素分析范围:硫(S)-铀(U)
测量时间:60-300S
测量含量范围:ppm-99.9%
电源:220V 建议配备1000W交流稳压电源
工作温度:15-30°C
测量条件:大气环境
rohs2.0检测仪EDX1800B标准配置
美Amptek Si-PIN探测器
美Amptek 信号检测电子电路
美spellman 高压电源
侧窗铍窗型X光管
品牌计算机(联想)和品牌激光打印机(佳能)
可安装三套独立软件(环保rohs、镀层分析、元素成分检测),真正做到机多
rohs2.0检测仪EDX1800B应用领域
电子电器、五金冲压、包装塑料等各类产品的rohs2.0、无卤检测
厂家介绍
是专业生产ROHS检测仪,气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪,X射线镀层测厚仪,,ROHS测量仪,液相色谱仪,ROHS2.0分析仪,XRF,X荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪, ROHS检测仪器,手持式合金分析仪等,涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。
被授予 “江苏省”,“江苏省软件企业”,“江苏省科技创新示范企业”,“江苏省重点软件企业”等荣誉称号。产品具有际*的技术水平,X荧光光谱仪(ROHS检测仪)系列产品被认定为“家重点新产品”和“江苏省*产品”。产品品种齐,为环境保护与安、工业测试与分析等众多领域提供检测方案。
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