x射线膜厚测厚仪 返回列表页

产品简介

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口的电制冷半导体探测器

详细介绍

样品介绍

下面介绍一款x射线膜厚测厚仪THick800A。利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪，又膜厚测试仪，镀层检测仪，XRF测厚仪，PCB镀层测厚仪，金属镀层测厚仪等。X射线能同时实现多镀层厚度分析。在实际应用中，多采用实际相近的镀层标注样品进行比较测量（即采用标准曲线法进行对比测试的方法）来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。XRF无损镀层测厚仪PCB线路板主要有镀金，镀镍，镀铜，镀银，镀锡等种类。其电镀工艺流程如下：
浸酸→全板电镀铜→图形转移→酸性除油→二级逆流漂洗→微蚀→二级浸酸→镀锡→二级逆流漂洗→浸酸→图形电镀铜→二级逆流漂洗→镀镍→二级水洗→浸柠檬酸→镀金→回收→2-3级纯水洗→烘干。
对于PCB生产企业来说，厚度的有效控制能做到有效的节约成本，又能满足客户需求，做到耐氧化、耐磨等。而X射线荧光镀层测厚法是PCB工业检测电镀厚度的有效手段。

产品简介

x射线膜厚测厚仪是X射线荧光镀层测厚技术，检测金属电镀厚度的分析仪，主要测试镀银，镀金，镀镍，镀锡，镀锌等

XRF无损镀层测厚仪快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于145eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
精度：超高精度，可达0.001um
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

厂家介绍

分析仪器行业的*家也是目前一家上市公司，公司现有员工1100人，包括研发部、技术部、生产部、国内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门，且公司规模日益壮大。股票代码为300165。
公司拥有水平的X荧光分析技术领域的专家队伍，同时，公司与国内外相关领域的专业研究院所和企业保持着密切的合作关系，实时追踪X荧光分析领域zui前沿的理论和技术。X荧光测厚仪，ROHS仪器，气质联用仪，X射线无损镀层测厚仪，液质联用仪，ROHS卤素检测仪，x荧光光谱分析仪，手持式光谱分析仪，气相色谱质谱联用仪，ROHS测试光谱仪，ROHS检测仪，江苏TianRay仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。