芯片PCT老化试验箱 返回列表页

　　芯片PCT老化试验箱材质：

　　1.试验箱尺寸：PCT-45(∮400mmxL600mm)圆型试验箱

　　2.全机外尺寸：900x700x1600mm(W*D*H)立式

　　3.内桶材质：不锈钢板材质(SUS#3163mm)

　　4.外桶材质：不锈钢板材质或选喷塑

　　5.保温材质：岩棉及硬质polyurethane发泡保温

　　6.蒸汽发室加热管：钛管加热，不生锈。

　　芯片PCT老化试验箱控制系统：

　　1.采用台制台达彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(采用PT-100白金感温体).

　　2.采用指针显示压力表.

　　3.微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度.

　　4.手动入水阀(自动补水功能，可不停机连续试验).

　　PCT老化试验箱满足标准

　　1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件;

　　2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;

　　3.MIL-STD810D方法502.2;

　　4.GJB150.9-8温湿试验;

　　5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验;