应力筛选型高低温冲击箱为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。（需把握在失败机制依然未受影响的条件下）RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环（可控制斜率的温度冲击）。 

◆ 可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能

◆ 等均温速率可设定范围5℃～30℃（40℃）

◆ 满足无铅制程、无铅焊锡、锡须（晶须）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求

◆ 采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行

◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成

◆ 通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能

◆ 感测器放置测试区出（回）风口符合实验有效性

◆ 机台多处报警监测，配置无线远程报警功能

应力筛选型高低温冲击试验箱应用标准 

1.GB/T 10589-1989低温试验箱技术条件

2.GB/T 11158-1989 高温试验箱技术条件

3.GB/T 10592-1989 高低温试验箱技术条件

4.GB/T 2423.1-2001 试验A：低温试验方法

5.GB/T 2423.2-2001试验B：高温试验方法 

6.GB/T 2423.22-2002试验N:温度变化试验方法

7.GJB150.3-1986高温试验

8.GJB150.4-1986低温试验

 满足无铅制程、无铅焊锡、锡须（晶须）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求