捷欧路JEOL JEM-F200 场发射透射电子显微镜有着精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。

EM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。

捷欧路JEOL JEM-F200 场发射透射电子显微镜采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。

捷欧路JEOL JEM-F200 场发射透射电子显微镜能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。

捷欧路JEOL JEM-F200 场发射透射电子显微镜能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。

捷欧路JEOL JEM-F200 场发射透射电子显微镜是个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的条件。该设备具有排程功能，能在的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。

TEM点分辨率	0.19 nm	0.23 nm
STEM-HAADF 像	0.14 nm @冷场枪	0.16 nm @冷场枪
	0.16 nm @热场枪	0.19 nm @热场枪
加速电压	200 , 80 kV	200 , 80 kV
主要选配件	能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统