一、简介：
FM-AR532/AR785是一台整合了原子力显微镜与激光拉曼光谱仪的设备，是两者技术的结合。
可以分别利用原子力显微镜和拉曼光谱仪对纳米材料表面形貌、颗粒度、粗糙度和拉曼光谱性能进行表征、分析，从而对样品提供更加全面的信息。
这样的集成，能让用户极大的提高工作效率，将更多的时间用于数据采集和分析，而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。
二、特点：
1、光机电算一体化设计。
2、内置复消色差光学系统，同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑。3、不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据，原位检测样品的各种形貌信息与化学信息，这样就确保了数据的一致性。
3、高通量的光信号收集和检测硬件保证采集每一点的信号和拉曼光谱。
4、扫描探头和激光耦合器集成一体，悬挂式防震，抗力强。
三、应用：
纳米科技、物理、化学、药物学、材料科学、半导体研究、晶体研究、薄膜与聚合物研究、矿物学、地质学、分析科学等。
技术参数
原子力显微镜：
| 工作模式 | 接触模式、轻敲模式，（可选配摩擦力、相位、磁力或静电力） |
| 样品尺寸 | Φ≤90mm，H≤20mm |
| 扫描范围 | XY向50um，Z向5um，（可选配XY向20um，Z向2um） |
| 样品移动范围 | ±10mm |
| 扫描分辨率 | XY向0.2nm，Z向0.05nm |
| 图像采样点 | 256×256，512×512 |
| 光学放大倍数 | 复消色差物镜10X（可选配20X） |
| 光学分辨率 | 1um |
| 扫描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
| 扫描角度 | 0~360° |
| 扫描控制 | XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A |
| 数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 |
| 反馈方式 | DSP数字反馈 |
| 计算机接口 | USB2.0 |
| 运行环境 | 运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统 |
拉曼光谱仪：
| FM-AR532 | FM-AR785 | |
| 激光波长 | 532±0.05nm | 785±0.05nm |
| 激光连续输出功率 | ＞500Mw(50-600mW连续可调) | |
| 激光波长稳定性 | ＜0.05nm | |
| 激光功率稳定性 | ＜2%（两小时内） | |
| 激光器寿命 | ＞10000小时 | |
| 拉曼漂移范围 | 50-4000cmˉ¹ | |
| 光谱分辨率 | ＜3cmˉ¹ | |
| 动态范围 | 8000:1 | |
| 积分时间 | 17毫秒-100秒 | |
| 线性度 | ＞99.8% | |
| 数据传输速率 | 传输到内存，使用USB2.0每次7毫秒 | |
| 操作系统 | WindowsXP /7 /8 | |
| 自动寻峰 | 支持 | |
| 拉曼数据库 | 3000多种常见数据（选配），支持升级 | |
| 开发式拉曼数据库 | 支持 | |
| 拉曼数据导入导出 | 支持 | |
| 分析软件 | Raman Analysis 2 | |
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