CHY型高精度薄膜测厚仪

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

标    准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

产品特点： 武汉市TKZM-14脉冲控制仪TKZM-16，CHY型高精度薄膜测厚仪

1.微电脑控制、液晶显示武汉市TKZM-14脉冲控制仪TKZM-16，CHY型高精度薄膜测厚仪

2.菜单式界面、PVC操作面板西安教学仪器厂

3.接触式测量

4.测头自动升降

5.自动进样

6.手动、自动双重测量模式

7.数据实时显示、自动统计

8.显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差

9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数

10.标准接触面积、测量压力（非标可选）

11.显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差

12.标准量块标定

13.RS232接口

14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

技术指标：

测量范围：0～2mm；0～6mm；12mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

进样步距：0～1000mm

进样速度：0.1～99.9mm/s

电    源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（

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