| 电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLZ-370 | 货号：ZH6915 |
| 产品简介 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。 内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。 测定方法:电磁式及高频涡流式 测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 测定范围:电磁式：0～1500um或0～60.0mils 高频式:0～800um或0～32.0mils 测定精度 电磁式：<15um±0.3um >15um±2% 高频式:<50um±1um >50um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限设定:可设定上/下限数值 测试单位:公/英制互换 显示方式:LCD数显 操作面板:密封防水按键 附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 体积:80(W)×80(D)×30(H) 重量:1100g |  |
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