HORIBA参展的SEMICON China 2018

     自1988年在上海举办以来，SEMICON China已成为中国首要的半导体行业盛事之一，囊括当今世界上半导体制造领域主要的设备及材料厂商。可以说，SEMICON China见证了中国半导体制造业茁壮成长，加速发展的历史。

  本届SEMICON China于3月14日在上海开幕，HORIBA也前来参加这一盛会，力求在追求率的半导体行业中，为科研及工业用户提供*的检测和分析工具，并提供解决方案。

  HORIBA作为有着近200年光学、光谱经验的老品牌，非常注重行业间合作，以推动不同领域的科研技术发展以及成果转化，譬如：HORIBA的辉光放电光谱技术就可用于半导体材料中镀层的深度剖析；椭圆偏振光谱技术可用于薄膜厚度、光学常数表征及工艺对镀层的影响分析；拉曼光谱技术可用于半导体芯片缺陷分析诊断等。

  本次盛会，HORIBA专设展台，与科研专家及厂商面对面交流。如果您有任何疑惑或需求，欢迎光临我们的展台，HORIBA的销售和技术人员会给您提供专业的建议及解决方案。

附展会详细信息如下：

展出时间：2018年3月14日-16日

展出地点：上海新博览中心

HORIBA展位号：N2馆 No.2601

>>>>HORIBA科学仪器事业部

结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术，HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供*的检测和分析工具及解决方案。如：光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等*检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为科研、各行业研发及质量控制的。