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10次试块CSL-Ⅱ/CSL-Ⅲ|上海如庆电子科技有限公司提供
⑴ CSL-Ⅱ试块:可利用A孔测定70°探头的灵敏度余量,也可用A、B孔校正横波的探测范围和时基线。试块中的φ2.5mm横通孔可作为检验仪器的近区探测能力。如图1-9所示。
⑵ CSL-Ⅲ试块:主要利用φ1.5平底孔对37°探头灵敏度余量的测定 。如图1-10所示。
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